Данная функция предназначена для измерения крутизны ростового холмика на поверхности кристалла по интерференционной картине, зафиксированной при помощи оптического микроскопа. Выберите один или несколько отрезков, наклон которых Вы хотите определить. Для этого Вы можете использовать инструменты сечение или линейку.

Затем вызовите функцию Высота по интерференционной картине. Появится меню с параметрами, показанное ниже на рисунке, в котором задаются длина волны падающего света и порог, определяющий минимальную величину амплитуды, которая учитывается при определении периода. Значение порога задается в процентах от максимальной амплитуды на изображении.

При запуске этой функции, автоматически все вычисления будут произведены с параметрами, установленными по умолчанию. Если они не соответствуют Вашему случаю, то их следует перенастроить. Результаты вычислений выводятся в виде таблицы , в которую записываются:

• Падение - величина падения высоты на выбранном отрезке,
• Расстояние - расстояние между концами выделенного отрезка,
• Угол - угол наклона кристалла на выбранном участке (вычисляется если это позволяют текущие единицы измерения на кадре).

Для того, чтобы оптическое изображение в графическом формате было правильно откалибровано по осям, воспользуйтесь мерными отрезками на изображении и функцией разрешение.